Главная / Оборудование для призводства электроники / Инспекция и контроль / Электрическое тестирование / Автоматизированные адаптерные тестовые системы (Bed of Nails) Keysight Medalist i3070

Автоматизированные адаптерные тестовые системы (Bed of Nails) Keysight Medalist i3070

medalist_i3070  800   801

Описание

Адаптерные тестовые системы Keysight Medalist i3070 предназначены для проведения комплексного внутрисхемного тестирования как в составе автоматизированной производственной линии, так и в отдельно стоящем варианте.

ICT Keysight Medalist i3070 — это:

  • Полный набор решений Keysight Technogies в области ICT.
  • Патентованная конструкция присоединения адаптеров с минимальной длиной линий передачи сигналов.
  • Простота обслуживания и смены адаптеров.
  • Возможности полной автоматизации.
  • Множество исполнений позволяет максимально адаптировать систему к условиям производства.
  • Компактные размеры.