Главная / Оборудование для призводства электроники / Инспекция и контроль / Электрическое тестирование / Высокоскоростная система внутрисхемного контроля TAKAYA APT-1600FD

Высокоскоростная система внутрисхемного контроля TAKAYA APT-1600FD

001

Описание

TAKAYA APT-1600FD – новое (седьмое) поколение двухсторонних систем с «летающими щупами» TAKAYA.

Иная конфигурация линейных приводов «летающих щупов», увеличенное их количество, серьёзно модернизированная аппаратная и программная часть установки – всё это делает TAKAYA APT-1600FD лидером в части скорости осуществления проверок (на 30-50% быстрее других систем) и их точности. Благодаря этим свойствам TAKAYA APT-1600FD наиболее эффективна в условиях среднесерийного производства печатных плат с высокой плотностью размещения элементов. Кроме того, увеличенная площадь зоны тестирования позволяет системе TAKAYA APT-1600FD работать с печатными платами увеличенных размеров.

Система APT-1600FD может быть оснащена до 10 независимыми тестовыми щупами – 6 с верхней стороны платы и до 4 с нижней. С верхней стороны платы в дополнение к четырем стандартным летающим щупам, установленным под углом к тестируемой плате, в APT- 1600FD могут быть добавлены два дополнительных щупа или IC open-сенсора, двигающихся вертикально. Щупы, двигающиеся по оси Z вертикально, способны протестировать труднодоступные точки, которые нельзя проверить с помощью стандартных щупов, установленных под углом, а также с высокой точностью контактировать с поверхностями, расположенными на разных высотах. Кроме того, эта функция позволяет с помощью щупов специальной формы контактировать с отверстиями под выводные компоненты или выводами разъемов. Таким образом можно существенно увеличить тестовое покрытие и производительность системы.

Характеристики

Параметр Значение
Щупы для верхней стороны платы 4 подвижных наклонных щупа;
2 подвижных вертикальных щупа;
2 подвижных щупа IC-open;
2 светодиодных сенсора.
Щупы для нижней стороны платы 2 подвижных щупа (плюс ещё 2 опционально);
2 подвижных щупа IC-open;
2 светодиодных сенсора.
Система компенсации прогиба печатной платы Лазерная, двухсторонняя
Разрешение позиционирования летающих щупов По осям X и Y: 1,25 мкм = 0,00125 мм (0,05 mil)
По оси Z: 5 мкм = 0,005 мм (0,2 mil)
Скорость тестирования (при шаге 2,5 мм), максимальное значение Одиночный тест: 0,05 – 0,06 с /шаг;
При последовательности тестов: 0,02 – 0,03 с /шаг.
Повторяемость позиционирования щупов (по осям X и Y) ±25 мкм = 0,025 мм (±1,0 mil) в режиме высокой точности
Минимальный размер проверяемой контактной площадки 30 – 50 мкм (0,03 – 0,05 мм) при использовании игольчатых щупов
Пределы измерений
- Низкоомные сопротивления 40мОм – 400 Ом (измерение методом Кельвина)
- Сопротивления 0,4 Ом – 40 МОм
- Ёмкости 4пФ – 40мФ
- Индуктивности 4мкГн – 400 Гн
- Импеданс 33 Ом – 330 кОм
- Диоды/транзисторы 0,1 В – 2,5 В или тест включения
- Стабилитроны 0,4 В – 40 В
- Транзисторы со встроенным резистором тест включения
- Оптопары тест включения
- Полевые транзисторы тест включения
- Реле, ключи тест включения (максимальное управляющее напряжение 24 В, 2 А)
- Интегральные микросхемы тест IC-Open
Источники питания
- Постоянное напряжение 0,08 В – 80 В
- Переменное напряжение 0,08 В – 50 В
- Постоянный ток 0,1 А – 2,0 А
Требования к питанию и подводу воздуха
- Электропитание Сеть переменного тока 200 – 240 В, 50/60 Гц, 2,8 кВА
- Воздух 0,6 – 0,7 МПа (сухой чистый воздух)
Габариты 1400×1500×1400 мм
Вес 1450 кг