г.Екатеринбург, ул.Волгоградская, д.193, оф.310
+7(343) 381-88-69 (343) 382-01-32
тел/факсГлавная / Оборудование для производства электроники / Инспекция и контроль / Контроль качества отмывки
Контроль качества отмывки
Системы контроля ионных загрязнений серии CM, Gen3
Применяется для проверки уровня ионного загрязнения печатной платы. Позволяет добиться точного результата за короткий промежуток времени. Графическое отображение информации делает работу простой и удобной.
- Баллистический усилитель позволяет добиться точности <0,005 μS/см
- Время теста <5 мин.
- Высокая точность измерений
- Автоматическая компенсация температуры для каждого теста
Технические характеристики
| CM 11+ | CM 22 | CM 33 | |
| Максимальный размер платы | 250 x 300 x 36 мм | 250 x 350 x 60 мм | Ванна 1: 500 x 350 x 60 мм Ванна 2: 610 x 610 x 90 мм |
| Диапазон измерений | 0,01 . 30 μg/см2 NaCl | ||
| Чувствительность | <0,25% диапазона измерений | ||
| Точность и повторяемость | ±2% диапазона | ||
| Макс. загрузка жидкостью | 3,5 л | 7,5 л | Ванна 1: 10,5 л Ванна 2: 33,5 л |
| Электропитание | 100-240 В, 50/60 Гц | ||
| Вес | примерно 30 кг | примерно 40 кг | Ванна 1: примерно 75 кг Ванна 2: примерно 85 кг |
| Габаритные размеры (ШхГхВ) | 39 x 36 x 52 см | 92 x 61 x 100 см | 92 x 61 x 100 см |